NIM系统插件使用、放大器性能测试、核数据获取处理与仿真、时间-幅度变换器（TAC）测试、模数变化器（ADC）特性测试、微机多道分析使用及微分非线性测量、单道分析器实验、半导体器件及系统参数测量实验。为后期开展测控电路设计、探测器开发与研制提供重要实践平台。